Le spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie est réalisé en analysant la longueur d'onde caractéristique des rayons X et l'intensité des éléments émis par l'échantillon. Les éléments contenus dans l'échantillon sont déterminés en fonction des différentes longueurs d'onde caractéristiques des rayons X des différents éléments. La teneur en éléments de l'échantillon peut être déterminée en comparant l'intensité des raies spectrales de différents éléments. L'EDX est généralement utilisé en conjonction avec un microscope électronique, ce qui permet l'analyse des microcomposants de l'échantillon.
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Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie
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Caractéristique du produit et application du spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie
1.Utilisation du détecteur Si-PIN haute performance de refroidissement électrique américain d'origine, haute résolution, large plage de détection, couvrant RoHS, halogène, revêtement, alliage (y compris les métaux précieux) et une variété d'analyses de matériaux conventionnelles des exigences de base.
2. Équipé du processeur intégré de signal multicanal numérique DPP le plus avancé, il a de meilleures performances que le processeur de signal multicanal analogique ordinaire, en particulier dans le taux de comptage élevé a une meilleure résolution (comme Hg et Cl, etc.), la vitesse de transmission des données jusqu'à 80 MHz rend le temps d'analyse plus court, la répétabilité des mesures et la stabilité à long terme meilleures.
3. Système de caméra HD intégré, observez clairement l'échantillon, localisez avec précision la zone de test de l'échantillon.
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Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie
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